多點測力治具專利核准
本公司已於2011年申請多點測力治具新型專利已獲專利標準局核准，相較一般測力設備必須一點一點量測，此新型專利運用機構的巧妙設計，將多點的量測荷重元集中在一有限空間內，同時可以執行多點的量測，可以大幅縮短生產線上或品檢線上的作業時間。
該設備可以量測的點與點距離僅5.5mm，適用於鍵盤、觸控面板等需要密集量測的產品上，目前應用於黑莓機的鍵盤良率檢測上。
本公司已於2011年申請多點測力治具新型專利已獲專利標準局核准，相較一般測力設備必須一點一點量測，此新型專利運用機構的巧妙設計，將多點的量測荷重元集中在一有限空間內，同時可以執行多點的量測，可以大幅縮短生產線上或品檢線上的作業時間。
該設備可以量測的點與點距離僅5.5mm，適用於鍵盤、觸控面板等需要密集量測的產品上，目前應用於黑莓機的鍵盤良率檢測上。
